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Cu掺杂CdSe纳米晶的制备与性能研究文献综述

 2020-04-14 14:52:16  

1.目的及意义

随着科技的发展,特别是半导体工艺技术的发展,人们对高效功能材料的需求越来越多。量子点和纳米晶因其可以与玻尔激子半径比拟的长度,在电子学和光学方面具有独特性能,而备受青睐[1]。其中Ⅱ-Ⅴ族、Ⅲ-Ⅴ族和Ⅳ-Ⅴ族这三个系列的量子点较为常见,Ⅱ-Ⅴ族量子点由于制备过程简单,荧光性能优良、光学性质稳定等优势而被广泛用于各领域科学研究[2]

CdSe纳米材料作为典型的Ⅱ-Ⅴ族纳米半导体,是目前研究的最为成熟的Ⅱ-Ⅴ族半导体。因其具有较大的玻尔半径,量子限域效应很强,从而获得一些新奇的半导体光学、电学和力学性能。所以一直是材料领域研究的一大热点,CdSe材料的制备在材料学领域也备受关注[3-5]

1993年,Murray等[6]首次在反应体系中引入TOPO(三辛基氧膦),制备出性能良好的CdSe纳米晶。Tang等[7]使用油酸作为配体,溶解于其中的CdO作为镉的前驱体溶液,制出了分散性好,尺寸均匀的CdSe QDs,Asokan等[8]用DTA(二乙烯三胺)和T66(氢化三联苯)代替了TOPO和ODE(十八烯)合成了质量较高的CdSe量子点,并使合成成本降低了许多。

除制备CdSe量子点外,研究者们尝试使用各种金属元素掺杂其中,得到了性能更为新奇的纳米晶材料[9-13],这些掺杂了不同金属的CdSe纳米晶材料拥有了更加广泛用途,这也是吸引人们孜孜不倦的研究它的重要原因。

而铜掺杂半导体材料作为照明与成像技术历史中重要的一环[14],铜掺杂半导体纳米晶也引起了不少学者的注意,如发光太阳能聚光器(LSC)[15],发光二极管,生物标记[2]等。在LSC的研究中发现,纳米晶Cd1-xCuxSe,在全光谱条件下,在小型和大型LSC中,其低重吸收率的表现优于所有其他种类的量子点,是一种非常值得深入研究的材料。

同时,我们注意到,Cu掺杂CdSe纳米晶材料具有非常优异的光学性能,但是,Cu掺杂CdSe 纳米晶的基本光物理性质仍然不明确,因为无法确认铜离子的氧化价态。Cu离子的d能级水平位于主体CdSe的带隙之间。掺杂铜的量子点的优势在于发射的调谐,主体修改的带隙可以将量子点的发射从600nm调节到800nm。在存在二价铜(3d9,Cu 2 )掺杂的量子点的情况下,激子和掺杂剂发射均出现[10]

因此,本课题就掺杂铜离子浓度作为变量,制备不同铜掺杂浓度的Cd1-xCuxSe纳米晶,利用TEM,XPS,PL光谱和UV-vis等测试方法对其微观形貌和光学性能进行表征,探究并分析铜掺杂浓度对Cu-CdSe纳米晶微观形貌和光学性能的影响。

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2. 研究的基本内容与方案

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2.1 基本内容

材料制备:采用非注入一锅煮法制备Cu掺杂CdSe(Cd1-xCuxSe)纳米晶。

材料表征:对Cd1-xCuxSe纳米晶体进行形貌结构和光学性能测试,用TEM、XPS等表征手段表征Cu掺杂浓度对所合成纳米晶体的微观形貌和化学组成,用UV-vis和PL光谱和吸收光谱分析Cu掺杂浓度对所合成纳米晶光学性能的影响。

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