光学薄膜透光率自动检测系统设计文献综述
2020-04-14 20:05:52
光学薄膜是指镀在一些光学器件或其他器件表面上的薄膜,来选择性的吸收某些波长的光,改变某些波长的光的透射性或偏振状态,或者相位来满足人们的需要。它具有良好的性能,使其不仅可以应用在光学领域中,我们生活中的各个领域都有应用,我们的手机电脑屏幕,眼镜外层的薄膜,光学器件和光通信中的应用更是不胜枚举。由此可见光学薄膜的重要程度。伴随着光学薄膜的越来越重要,光学薄膜相关性能的要求也就越来越高,尤其是透过,反射,吸收等性能,因此对这些性能的测试也显得尤为重要。
目前国内外对光学薄膜透过率的测试方法偏少,比较单一,主要为单色仪测试光学薄膜透过率的方法,这种方法检测方法复杂,检测效率低,不能实现检测数据的采集,储存和分析。通过查阅中外文献,我发现国内外对光学薄膜透过率检测的研究很少,近十年来的相关研究文章甚少,很多研究都在考虑如何提高光学薄膜的透过,反射,吸收等性能,对于测试这些性能的方法的研究反而很少,这会导致光学薄膜性能测试方法跟不上光学薄膜性能提高的研究,反而影响了光学薄膜性能提高研究的速度,因此,对光学薄膜透过率测试方法的研究就十分迫在眉睫。光学薄膜透过率检测的方法应需满足效率高,测试精度高,便于数据的采集,储存和分析。
本篇论文旨在研究出一个光学薄膜透过率自动检测系统,它具有能实现自动检测的机械结构,能够基于Labview能实现数据采集,数据储存和分析的软件系统。Labview的数据采集系统是自动测试系统的发展方向,研究在 Labview环境下,基于 Labview的数据采集、显示及存储软件功能,开发针对不同实验数据的处理程序,包括数据回放、数据处理、频谱分析和功率谱分析等功能,具有准确性、可靠性和实用性高的优点。能够实现自动检测的机械结构,采用Labview的虚拟仪器控制功能从而实现自动化检测的目的。这种方法稳定性高,便于操作。因此,通过光学薄膜透过率自动检测系统对实验数据进行采集与处理,通过实验数据的比较分析,对光学薄膜的性能提高的研究,光学薄膜生产质量的把控都十分有帮助。
{title}2. 研究的基本内容与方案
{title}本设计的基本内容:针对光学薄膜透光率测试的需求,设计基于Labview的透过率自动化检测系统控制界面,设计检测机械装置结构。要求能够实现自动化检测,检测控制界面操作检测动作以及数据处理功能。
本设计的技术方案:硬件设计方面,为了满足自动化检测的目的,拟采用Labview虚拟仪器控制,通过控制电机的动作,从而控制光学薄膜动作。Labview通过串口通信实现光学薄膜透过率数据的采集,也通过串口通信实现检测控制界面对自动检测机械结构的动作控制;软件设计方面,Labview作为人机交互界面起着至关重要的作用。不仅要采集光学薄膜透过率的数据进行分析处理并显示在PC上,还要保存这些数据,方便日后的查看。因此通过Labview的程序设计,设计出光学薄膜的自动检测控制界面,要求能够显示光学薄膜透过率的数据以及对自动化检测机械结构的状态显示。Labview为用户提供了丰富的串口通信函数,串口通信函数具有技术简单成熟,性能稳定,通信快捷等优点,通过调用Labview的函数功能,能实现数据的采集传输。通过Labview的虚拟仪器控制功能,实现硬件的自动化检测工作。
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