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Ba[Co(1/3)Nb(2/3))(1-x)Ti_x]O_3陶瓷的微波介电性能开题报告

 2020-04-15 16:57:28  

1. 研究目的与意义(文献综述包含参考文献)

文 献 综 述 1 引言 微波介电陶瓷(mwdc)是指在微波频段(300mhz-300ghz频段)下使用的一种电介质材料,在外电场下,物质内部极化强度发生变化,以感应的方式传递和储存电能[1]。

微波介质陶瓷具有高介电常数(εr)、品质因数(q)和谐振频率温度系数(τf)等优良性能。

而且微波介电陶瓷具有优异的微波介电性能、制作成的制品体积小、重量轻、温度稳定性好、 价格便宜,在微波电路系统中发挥着介质隔离、介质波导以及介质谐振等一系列电路功能,促进了微波电路的小型化、集成化和高品质化。

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2. 研究的基本内容、问题解决措施及方案

本实验通过一般固相法制备ba[co(1/3)nb(2/3) (1-x)tix]o3粉体,采用干压成型、在专用的陶瓷高温烧结炉内烧成陶瓷片,通过阿基米德法等手段测定其吸水率,利用x射线衍射分析、扫描电子显微镜(sem)观察合成粉料的结构和形貌特征,利用介质谐振腔法测定陶瓷片的介电常数和介电损耗。

采用一般固相法制备(mg1-xcox)tio3微波介质陶瓷,具有如下路线流程: baco3,coo,nb2o5,tio2按一定配比→混磨→干燥→预烧→球磨→干燥→造粒→压片→烧结→加工测试(体积密度,介电性能,xrd,sem) 图1本实验微波介质陶瓷固相反应工艺流程图 尺寸(直径、厚度):由游标卡尺和螺旋测微仪测定; 体积密度:由阿基米德排水法测定; 陶瓷试样显微形貌与相组成:扫描电子显微镜(sem)、x射线衍射(xrd); 微波频率下的介电常数和介质损耗:通过网络分析仪测得; 中频下的介电常数:通过agilent 4294a阻抗分析仪测得。

频率温度系数:有两种方法进行测定,一种是通过阻抗分析仪在恒定温度下测得介电常数,从而代入中算出介电常数温度系数,再将算出的值代入到中,求出频率温度系数τf ;另一种是直接在网络分析仪上测得频率和介电常数,从而得到频率温度系数τf 。

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