耐高温银基焊点的制备及界面组织演变行为任务书
2020-04-23 19:57:45
1. 毕业设计(论文)主要内容:
大功率电子器件工作中,igbt内部sic芯片和陶瓷基板的芯片互连层(die attachment)需承受300oc以上的高温,这往往超过了大多数无铅焊料的熔点(210~220oc左右),而一味提高焊料的熔点会造成电子器件的高温损伤。因此,亟需提出一种可实现“低温互连,高温服役”的连接材料。基于此,本课题拟制备新型耐高温银基焊点,设计(论文)主要内容如下:
1. 文献调研,了解国内外相关研究概括和发展趋势;
2. 毕业设计(论文)主要任务及要求
1.查阅不少于15篇的参考文献(其中近5年英文文献不少于3篇),完成开题报告;
2.掌握耐高温银基焊点的制备工艺;
3. 观察表征银基焊点在不同热处理工艺下的界面组织演变;
3. 毕业设计(论文)完成任务的计划与安排
第1-3周:查阅相关文献资料,完成英文翻译。明确研究内容,了解研究对象结构、测试仪器和设备。确定技术方案,并完成开题报告;
第4-7周:按照技术方案,制备耐高温银基焊点并对其进行热处理;
第8-10周:采用光学显微镜和feg-sem等测试技术对焊点内的界面组织进行表征;
4. 主要参考文献
[1] wu jq, lee cc. low pressure solid-state bonding technology using fine-grained silver foils for high-temperature electronics [j]. journal of materials science. 2018 (53): 2618-2630.
[2] liu xj, wang cq, liu w, zheng z, li my, low temperature nanojoining ofsilver–copper nanopaste as die attach material for high temperature packaging [j]. journal of materials science: materials in electronics, 2017 (28): 5446-5451.
[3] riko im, chee lg, li yy, study of low-temperaturethermocompression bonding in ag-in solder for packaging applications [j]. journal of electronic materials, 2009 (38): 365-371.