从EMC特性角度探讨如何改善产品MUF Void Strip warpage/COP问题文献综述
2020-05-23 15:58:48
文 献 综 述
1. 概述
随着半导体封装技术的发展,业界对信号完整性和电学性能提出了越来越高的要求,采用MUF(模塑底部填充)的倒装芯片封装技术使得无源器件与倒装芯片的间距更小,不仅满足了性能要求还提供了更优的薄芯基板变形控制。但是MUF封装工艺中封装材料常常出现翘曲(warpage)和空洞(void)等缺陷,降低产品合格率[1]。
由环氧树脂、填料、固化剂、促进剂以及其他助剂按一定的比例经过前混、挤出、粉碎、磁选、后混合、预成型等工艺可以得到环氧树脂塑封料(EMC)[2]。用于电子封装的EMC具有以下特点:固化反应属于加成聚合,因而收缩率较小,无副产物;耐热性优异,能满足一般电子、电器绝缘材料的要求;密着性以及电绝缘性好;固化剂和促进剂的选择具有多样性,根据需要可以制备各种性能要求的封装材料[3]。
硅微粉是用二氧化硅()材料经过破碎、提纯、研磨、分级等工艺精细加工而成,其有着良好的绝缘性能,能降低环氧树脂固化反应的放热峰值温度,降低固化物的线膨胀系数和收缩率,从而消除固化物的内应力,防止开裂[4]。电子级熔融型硅微粉作为环氧树脂塑封料的填充物,不但提高了环氧固化物的各项性能,同时还降低了成本。
目前,硅微粉已经在电子、电工、陶瓷、日用化工等领域得到了广泛的应用。电子
行业有电子级结晶型硅微粉(JG)、电子级结晶型活性硅微粉(JGH)、电子级熔融型硅微粉(RG)、电子级熔融型活性硅微粉(RGH)等四类[5]。因为结晶型硅微粉的热膨胀系数较高(),而且其晶体结构一般为六方石英类型,其热膨胀性是各向异性的,所以现在一般只用在非电子封装领域。熔融硅微粉的膨胀系数为,环氧树脂为。当熔融球形硅微粉以高比例加入环氧树脂中制成塑封料时,其热膨胀系数可调到 左右,加得越多,就越接近单晶硅片的热膨胀系数[6]。故本次实验采用电子级熔融型硅微粉作为填料。
2. 国内外进展
2.1 电子封装材料的研究进展
现代电子信息技术飞速发展,电子产品愈来愈趋向小型化、便携化和多功能化。电子封装材料用于承载电子元器件及其连接线路,对芯片具有机械支持和环境保护作用,同时也对器件和电路的热性能和可靠性起着重要作用。电子封装材料主要包括基板、布线、框架、层间介质和密封材料,最早用于封装的材料是陶瓷和金属,随着电路密度和功能的不断提高,对封装技术提出了更多更高的要求,同时也促进了封装材料的发展,研究高性能电子封装材料已成为国内外众多学者所关注的热点问题[7]。
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