1. 研究目的与意义（文献综述）

sn-37pb钎料具有优异的软钎焊性能，曾广泛应用于电子封装领域，但由于pb对人体健康和自然环境都有极大的危害，pb在电子产品中的使用受到限制，欧盟出台相关法规对消费产品中的铅含量进行了规定，各国研究学者都对无铅钎料进行了探索，以实现电子元器件无铅化这一目标。

sn-58bi以其低熔点（138℃），低成本，低膨胀系数以及良好的润湿性能等优点，进入了学者们的视野。sn-58bi不仅可降低焊接材料间热膨胀不匹配引起的损害，还能使一些不具有高温性能的电子元件和电路板得以使用，从而降低产品成本，逐渐成为了低温封装领域的主角。

随着电子元器件的微型化，焊点的尺寸越来越小，导致通过焊点的电流密度上升，极易产生电迁移现象，导致焊点失效。当器件工作时，金属互连线内有一定电流通过，金属离子会沿导体产生质量的输运，其结果会使导体的某些部位产生空洞或晶须(小丘)，这就是电迁移现象。它可能使金属线断裂，从而影响芯片的正常工作。电迁移在高电流密度和高频率变化的连线上比较容易产生。

2. 研究的基本内容与方案

2.1 基本内容

1、研究电迁移对焊缝钎料组织、imc层演变过程、界面处bi偏析的影响规律；

2、揭示sn-58bi/cu焊点电迁移过程中imc层结构转变和生长机制，以及bi偏析机理；

3. 研究计划与安排

第1－3周：查阅相关文献资料，完成英文翻译。明确研究内容，了解研究所需原料、仪器和设备。确定技术方案，并完成开题报告。

第4－6周：按照设计方案，制备sn-bi共晶钎料薄带。

第7－11周：采用om、epma等测试技术对钎料钎焊界面的物相、显微组织结构及微区成分进行测试分析。

4. 参考文献（12篇以上）

[1] yang t l，wu j y，li c c, et al.low temperature bonding for high temperature applications by using snbi solders[j]. journal of alloys amp; compounds, 2015, 647:681-685.

[2] ma y，li x，zhou w，et al.reinforcement of graphene nanosheets on the microstructure and properties ofsn58bi lead-free solder [j]. materials amp; design, 2017, 113:264-272.

[3] yue w, qin h b, zhou m b, etal. electromigration induced microstructure evolution and damage in asymmetriccu/sn-58bi/cu solder interconnect under current stressing [j]. transactions ofnonferrous metals society ofchina,2014, 24(5):1619-1628.