APD老化系统控制电路的设计与实现开题报告
2020-10-31 09:11:58
1. 研究目的与意义(文献综述)
1、目的及意义(含国内外的研究现状分析) 1.1 研究目的及意义 APD雪崩二极管作为高速光电系统的关键器件,随着光电技术的发展更显现出其重要性。而目前APD雪崩二极管测试主要依赖国外的设备,存在测试参数不完善和价格高的问题,不能满足APD管生产测试的需要,因此本课题开发了APD雪崩二极管测试系统。该系统采用集成度高的片上集成雪崩二极管(APD)偏置电压控制和光电流检测功能的器件,具有很好的防干扰性能,同时系统增加了光源,弥补了现有系统不能直接对APD管响应度测量的不足,实现了在同一台测试系统上快速的对APD管多种特性参数的测试。该系统可以对APD管的击穿电压、暗电流、响应度和倍增因子进行测试。 通信速度的越来越快,再度激起人们对高速光电系统和光电子器件研究的兴趣。APD管具有响应速度快和扩流的作用,在通信飞速发展的今天得到广泛的使用。APD雪崩二极管测试系统的研究为APD管的生产和测试带来了方便,目前用于APD雪崩二极管测试的系统,基本上是使用源表对APD雪崩二极管进行测试,数字源表可以输出很高的电压和微弱的电流,具有很高的精度,可以用于各种需要测电流电压的场合,但是价格很昂贵,同时由于这种表不专门用于测试APD雪崩二极管,不具有光源输出的功能,因此对于APD雪崩二极管一些参数的测量需要借助外接光源,操作比较费时,效率不高,为了节省APD管生产成本和适应快速测试的需要,APD雪崩二极管测试系统的研究已经成为急需解决的课题。 对于连续工作的APD雪崩光电探测器,系统对其工作寿命提出了较高的要求,但是迄今有关雪崩光电探测器寿命研究的报道甚少,因此本课题要研制一个雪崩光电探测器的自动老化测试电路,通过该系统可以推断出APD雪崩光电探测器的使用寿命。 1.2 国内外研究现状 在测试技术研发和产业上,美国、检测技术主要方面的突破产生于美国,日本和德国走在了世界的前列阴。光电在研发上走在世界的前列,当前,国内外很多公司和厂家都在研制APD测试设备,典型的国外生产厂家有:美国的keithley、TEK公司、Agilent公司、labsphere公司等。以美国的Keithley公司为例,由于这个公司具有先进的仪器设计制造技术,该公司主要研究具有通用功能的设备,如2400、6450等源表,这种仪器类似于万用表,既可以输出电压测电流信号也可以输出电流测量电压信号,精度可以达到fA级,因此这种表常用于测量APD雪崩二极管,但是由于这种表不是针对APD管测试研制的,因此对于APD的一些参数需要借助其他设备共同完成,此外源表的精度很高价格也很高,高的精度远远超出了APD管测试系统的需要。这就激发了人们研究APD雪崩二极管测试系统热情。 目前,国外的APD测试设备主要是使用源表来测试参数的,源表的价格很高,对于APD管的响应度测量还需要借助外部设备提供光信号,不具有针对性,国内研究APD测试设备主要是大学和研究所,这些都是科研的需要,对于APD管生产上的应用还需要一定的时间,武汉、宁波和杭州的一些仪器公司研发了实验系统,这些系统精度不高,主要用于教学实验。在这种情况下,研究具有高精度的APD生产测试系统是非常有意义的。 |
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2. 研究的基本内容与方案
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3. 研究计划与安排
3、进度安排
第1-3周:查阅相关文献资料,明确研究内容,了解研究所需理论基础。确定方案,完成开题报告。
4. 参考文献(12篇以上)
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