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落锤式冲击试验台的系统设计文献综述

 2020-06-07 21:29:37  

文 献 综 述

一、背景

1.课题背景

电子设备为人们提供了舒适、安全、方便的生活条件,丰富了人们的娱乐活动,并可方便人们的衣食住行。其中许多设备在应用时难免要处在强烈的振动或冲击环境下,这种环境能显著地降低设备性能甚至引起严重损坏。

环境因素造成的设备故障是严重的。国外曾对机载电子设备进行故障剖析[1],结果发现,50%以上的故障是由环境因素所致。而由温度、冲击、湿度三项环境造成的故障率则高达44%。

2.冲击的危害

在电子设备所处的机械环境中,各种机械力和干扰形式都有可能对设备的可靠性造成危害,其中危害最大的是振动和冲击。它们造成的危害主要有两种[2]:一种是设备在某一激振频率下导致振幅很大的共振现象,最终因振动加速度超过设备所能承受的极限加速度而破坏;或者由于冲击所产生的冲击力超过设备的强度极限而使设备破坏。另一种则是振动加速度或冲击力引起的应力虽远低于材料在静载荷下的强度,但由于长时间振动或多次冲击使材料疲劳破坏,从而导致设备破坏。

3.冲击试验的必要性

基于上述原因,在产品设计过程中,产品的抗冲击能力就成为必须考虑的重要内容。

在产品设计阶段就要评定产品零组件以及整体的耐冲击能力,检验出较脆弱的部分。如何评定产品抗冲击能力,以及使得产品的抗冲击能力评定标准一致就变成必须解决的问题。因此,冲击试验已成为提高产品可靠性,包装设计所不可或缺的条件。

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