1. 研究目的与意义（文献综述）

1.1 国内外研究现状

随着阴极射线管cathode ray tube（ crt）技术被薄膜晶体管液晶显示器thin film transistor -liquid cry display(tft-lcd)技术完全地取代，各行各业对显示器的使用范围也在不断增大，为适应客户对显示器使用量日益增加的需求，液晶屏生产商除了满足高分辨率、宽视角等要求，还需要进一步提升自身的产量投入市场，然而在提升产能的同时，更要保证产品品质来提高产品市场竞争力。

随着科学技术的发展，自动光学检测aoi(automatic optics inspection)应用于工业生产的很多领域。在工业生产中，由于检测对象的环境状态差异比较大，对aoi系统的软件、硬件要求也不同。液晶液晶屏不光注重外观，更注重液晶屏的显像效果，在加工过程中需要多个阶段进行检测，确保无外观、功能等异常才出货。aoi应用于液晶屏加工的很多阶段，aoi的导入改变了传统人眼检查实物的局面，提高了生产率，降低人的工作强度，节省人力，是未来工业生产中发展的趋势。但由于aoi系统的应用还不是非常成熟，应用于产线，在检测过程中还存在许多问题，理论和实际还有一定距离，本论文就是针对aoi在产线应用中存在的问题给与分析介绍，并根据产线需求开发新功能。

1.2 研究的目的和意义

液晶屏加工过程中，有很多阶段需要检测外观和液晶屏点亮后的效果，对性能不满足要求的产品进行重工或者报废处理。电测是液晶屏检测的第一站，电测是将切割好的液晶屏经过清洗后放到电测治具上，治具给液晶屏提供点亮液晶屏的红、绿、蓝、灰等画面信号，在各个画面下观察屏幕显示是否存在点类、线类不良，电测阶段的目标是将存在不良的液晶屏检测出来，避免后续加工材料的浪费。传统的电测是人工放片，手动切换画面，人眼检测画面中的不良，这种方式存在着效率低下，检测结果因人而异，新老员工的检测效率及准确度差异大，成本高等缺点，这种测量方式不能适应当今高速、高质的生产模式。aoi在电测阶段具有明显的优势，只需人员将液晶屏放在aoi机台的电测治具上，画面信号的切换和屏幕被点亮后的现象都由aoi机台分析处理，给出一个代表产品良品还是废品的信号，作业员只需根据aoi机台给出的信号对液晶屏进行分类放置。aoi导入在提高效率的同时降低了漏检率，减少了人力，适应当今发展需求。因此，探究aoi机台在产线上的应用，解决产线上存在的问题，根据生产中存在的问题开发新功能，完善系统是非常有意义的。

2. 研究的基本内容与方案

2.1设计的内容及目标

目前AOI在液晶屏生产过程中应用广泛，由于AOI的高效性适应产能需求，也能降低人力成本，倍受各液晶屏生产商关注，也逐渐在产线上推广AOI。但由于产线中存在的异常有不确定性，目前AOI并不能检测出所有不良产品，导致产品漏检，造成材料浪费，加工成本增加。本论文介绍的是基于AOI的液晶液晶屏检测系统设计，设计的主要内容是根据产线具体状况，分析探究检测系统不容易检测不良的类型和特点，根据不良状况，结合AOI本身特点设计出适应产线的检测系统；分析系统参数，探究参数底层意义，为公司设计标准参数模版，提高换线速度。通过各方面的改善，提高AOI机台的拦检功能，从而降低产品的漏检率，达到检测高效、省材、降低生产成本的目的。

2.2设计拟采用的技术方案及措施

在设计过程起初要了解机台构造，查阅相关资料，对机台性能有充分认识，学习液晶屏的相关知识，为后续分析不良产品特征及可能存在的原因奠定基础。影响AOI的检测效果的因素很多，最主要是软件的各方面的参数设置不合理，具体哪个参数在检测过程中起什么作用，适合检测什么缺陷的不良，在这方面了解的人非常少，以至于调机过程中没有标准，导致工作效率低下，AOI机台的拦检率不稳定。在参数方面采用控制变量的方法，对参数进行测试，归结出参数设定标准模版，提高换线调机的效率。对容易漏检的产品进行追踪，分析不良产品特性，查找漏检真因，根据其不良特性开发能使不良现象显像明显的画面信号，使AOI机台的镜头容易抓取不良点，从而提高拦检率，降低漏检。

3. 研究计划与安排

第1～3周，阅读相关文献，明确设计目标，完成开题报告。

第4～5周，根据产线情况，追踪不良产品，分析不良产品特征；测试参数对不良状况的影响，记录数据。

第6～9周，对数据进行分析，根据分析结果，设计画面信号，归纳参数范围，制定标准化参数值并投入产线验证。

第10～13周，设计结果应用产线，跟踪产品良率情况，验证结果，并完成设计初稿。

4. 参考文献（12篇以上）

[1] 李昌海. 基于aoi的lcd线路缺陷检测系统[d]. 电子科技大学，2013.

[2] 周波波. 基于小型tft-lcd点缺陷检测系统的研究[d]. 中南林业科技大学，2016.

[3] 楚卫强.aoi测试设备现状发展[d].北京航天工业学院，2011.

[4] 黄刚. 液晶液晶屏缺陷自动检测方法的研究[d]. 南京大学，2012.