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基于AMR传感器的颗粒示踪技术开题报告

 2020-05-06 16:42:25  

1. 研究目的与意义(文献综述包含参考文献)

文 献 综 述 1.1研究背景意义 磁场的检测按照检测磁场的强弱可以分为弱磁场、强磁场和甚强磁场,每种强度的磁场测量方法和手段都有所不同,而弱磁场的测量水平往往代表着磁场测量的研究水平[1]。

amr 磁阻传感器的优良特性, 人们也将它广泛用于其他技术领域, 如磁罗盘、电流测量、流动检测、转速检测、阀位控制、点火定时、机器人控制、活门位置检测、周期和时间测量、位移和力的测量, 直线或旋转运动及位置检测以及磁场分布的测量和铁磁材料磁滞回线的测量等领域[2]。

弱磁场检测技术应用场景越来越广泛,因此设计高灵敏度,轻便的弱磁场检测系统具有重要意义。

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2. 研究的基本内容、问题解决措施及方案

研究各种磁敏传感器的特点进行分析论证,确定合适的磁敏传感器作为弱磁场颗粒检测,选择合适的永磁体作为磁性颗粒,根据磁场的分布通过磁敏传感器进行数据的采集,选择合适的单片机进行数据的提取获取传感器位置的三维磁场信息,采用合适的算法计算得到磁性示踪颗粒的位置信息。

对测量的位置信息转化速度数据后,并将相关的信息发送到计算机中作处理并实时在线的显示。

2.2拟采用的研究手段 硬件系统选型和系统框架: 磁性颗粒示踪实现: 采用两个磁敏传感器,当磁性颗粒位置发生变化,磁敏传感器便输出脉冲计算脉冲个数,来测定磁性颗粒的角度。

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