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1. 研究目的与意义及国内外研究现状

随着科技的进步和精密仪器的应用，透明介质厚度的测量方法层出不穷。实验室中常用千分尺或卡尺对物体的厚度进行测量，这种方法对于表面光洁度要求不高的器件的厚度测量来说相对较为容易，误差也相对较小。但是对于表面光洁度要求较高的透明介质的厚度测量，如薄膜，这种方法就存在相当大的相对误差。因此，探索新的实验室测量透明介质厚度的方法就显得尤为重要。

迈克尔逊干涉仪是一种利用分振幅法产生双光束从而实现干涉的仪器，它既可以用来测量光的波长和相干长度，也可以用来测量透明介质的厚度及折射率。用迈克尔逊干涉仪来测量透明介质的厚度可实现比用传统的测量方法（用千分尺测量薄膜厚度）产生更微小的误差。同时，利用迈克尔逊干涉仪的等厚干涉及白光干涉产生的条纹来测量和计算出被测的透明介质的厚度及折射率，可以为实验室测量透明介质的折射率提供参考。

本论文基于大学物理实验中用迈克尔逊干涉仪测量he-ne激光的波长及钠光的相干长度，对迈克尔逊干涉仪的应用范围进行扩展。

2. 研究的基本内容

我的毕业论文的研究内容为用迈克尔逊干涉仪测量透明薄膜的厚度及折射率的测量方法及误差分析的研究。

图1

3. 实施方案、进度安排及预期效果

（1）阅读相关论文及书籍 2017.2.18-2017.2.28

（2）分析研究原理及研究方法 2017.3.1-3.5

（3）实验操作2017.3.6-3.31

4. 参考文献

1.赵凯华，钟锡华.光学【m】.北京.北京大学出版社.1984.

2.李季平，吴启元，刘小廷，蔡云良.激光等密度等倾干涉条纹法测定透明介质的厚度和折射率【j】.物理实验.2000.(3):38.

3.沈元华.设计性研究性物理实验教程【m】.上海.复旦大学出版社.2004.